涂層測厚儀的標準

涂層測厚儀是一種能夠快速、無損傷、高精密地進行涂層、油漆、鍍層的厚度測量，在了解涂層測厚儀標準前，我們需要知道它的涂層測厚儀原理，涂層測厚儀主要分為兩種測量方式，一種是磁性（霍爾效應），另外一種是渦流效應，而儀器可以是單磁性，單渦流，也可以是磁性渦流一體。而每一種測量方式都有其對應的標準。

GB/T4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法:

本標準規定了使用磁性測厚儀器無損測量磁性金屬基體上非磁性(包括釉瓷和搪瓷)覆蓋層厚度的方法。該方法適用于平試樣上的測量。不適用于非磁性基體上覆蓋層的測量。本標準等效采用國際標準ISO 2178-1982((磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度的磁性祖叮里方法》。

GB/T4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法:

本標準規定了使用磁性測厚儀器無損測量磁性金屬基體上非磁性(包括釉瓷和搪瓷)覆蓋層厚度的方法。該方法適用于平試樣上的測量。不適用于非磁性基體上覆蓋層的測量。本標準等效采用國際標準ISO 2178-1982((磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度的磁性祖叮里方法》。

JJG889─1995《磁阻法測厚儀》:

本規定適用于新制造、使用中和維修后的磁阻法測厚儀的檢定。

JJG818─93《電渦流式測厚儀》：

本規定適用于新制造、使用中和維修后的電渦流式測厚儀的檢定。

GB/T4957─1985非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法：

本標準規定了使用渦流儀器無損測最非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度的方法。該方法適用于側聳大多數陽極氧化覆蓋層的厚度，但不適用于測最所有薄的轉化膜。本標準等效采用國際標準ISO 2360-1982《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度的渦流測量方法》。